Mitutoyo日本三豐光學鏡頭顯微鏡單元介紹

Mitutoyo日本三豐光學鏡頭顯微鏡單元 

視頻顯微鏡單元 VMU特點

·緊湊、輕巧的相機觀察專用顯微鏡。

適用于金屬、樹脂、印刷表面、微小運動物體等各種觀察對象。

·適用于使用YAG激光(近紅外、可見、近紫外、紫外)的微細加工。※

※不保證激光振蕩器配備系統的綜合性能和安全性。

半導體電路的切割、修整、修正、打標、薄膜(絕緣膜)的去除和加工、液晶彩色濾光片等的修復(修正缺陷)等。

·適用于紅外光學系統?！?br style="box-sizing: border-box; margin: 0px; padding: 0px; outline: 0px; max-width: 100%; overflow-wrap: break-word !important;"/>

※另需紅外光源和紅外攝像機等。

硅類的內部觀察、紅外光譜特征分析等。

大視場視頻顯微鏡單元 WIDE VMU特點

·高密度配置多個單元，可以對大范圍進行集中檢查。

·除了通常的明視場觀察外，還適合用于外觀檢查和劃痕檢查的暗視場觀察，以及具有偏光特性的觀察對象的偏光觀察。

精密顯微鏡單元 FS70特點

·帶目鏡觀察部的小巧顯微鏡單元。

適用于金屬表面和半導體、液晶、樹脂等各種觀察對象。

·適用于使用YAG激光(近紅外、可見、近紫外、紫外)的微細加工?！?/span>

※不保證激光系統產品的性能和安全性。

半導體電路的切割、修整、修正、打標、薄膜(絕緣膜)的去除和加工、液晶彩色濾光片等的修復(修正缺陷)等。并適合作為半導體故障分析用探針臺的光學觀察部分。

·適用于紅外光學系統。※

※另需紅外光源和紅外攝像機等。

硅類的內部觀察、紅外光譜特征分析等。

明視場用物鏡M Plan Apo / M Plan Apo HR特點

·無限遠校正

·明視場觀察用

·長工作距離

·平場復消色差規格

明視場用近紅外區校正 物鏡M Plan Apo NIR /M Plan Apo NIR HR特點

明視場用紫外區校正 物鏡M Plan UV特點

·無限遠校正

·明視場觀察及激光加工用

·長工作距離

·對紫外區(波長266nm)和可見區(常用觀察波長區)進行了校正設計。

·重點保證了紫外區的高透射率。